棕剛玉粒度檢測(cè)方法有哪些，簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，簡(jiǎn)單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。
    操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較廣泛。電阻法的優(yōu)點(diǎn)是操作漸變可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。激光法優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍廣，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高，分辨力低。
    電子顯微鏡法適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析。光阻法。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高超。透氣法。優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)測(cè)性材料粉體。